武汉测厚仪、测厚仪、智博通科技(多图)
仪器符合国家标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。
仪器特点
* 采用双功能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精‘确测量。
* 符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。
* 采用手机菜单式功能选择方式，操作十分简便。
* 可设定上下限值，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
* 稳定性极高，通常不必校正便可长期使用。
技术规格
量 程： 0～2000μm ,
电 源： 两节5号电池
标准配置
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，有试验数据表明，热态材料每增加100°C，声速下降1%。对于高温在役设备常
常碰到这种情况。应选用高温专用探头（300－600°C)，切勿使用普通探头。
武汉智博通科技有限公司
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