薄膜便携式测厚仪
产品用途
数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
技术指标
1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm
3.电源:氧化银电池SR44
4.工作温度:0℃~+40℃
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
德国尼克斯QuaNix 4200/4500/1200/1500/7500 覆层测厚仪
特点:
1.高精度、大量程
2.一体化设计,可更换探头
3.可选择单点或两点校准
4.中文操作菜单
5.背光液晶
6. 数据无线传输
采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适
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