测量结果误差太多
引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了，这里我们在简单介绍一下引起测量误差较大的原因主要有：基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等，新来的朋友可以参考仪器的文章熟悉一下我们就不一一做介绍了。
目前，国内国外不管是出名的品牌还是一般的生产厂家，其测厚仪的操作方法均需要如下步骤：
1调零，即在特定的零板上调零，或在需要测量的原基材上调零；
2根据测量产品的不同测量范围，用适当的测试片调值，以减少测量上的误差。 这种方法一般情况下，仪器新购使用时还是没有什么问题的，只是比较繁琐一点。 但当探头使用一段时间后，问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。 很难把握。原因在于产品的原理，这是一个致命的缺陷，即探头是使用一根磁铁绕线圈。 通上电流后产生磁场，这个磁场是不规则的。 还好，现在有一款新型的涂层测厚仪，它采用的是’新的磁感技术。也就是我们知道的 霍尔效应， 霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系，测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系 , 霍尔发现这个电位差 UH与电流强度 I H 成正比，与磁感应强度 B 成正比，与薄片的厚度 d 成反比。 这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时，使用更为简单和方便了。
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适
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