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OXFORD-760台式测厚仪
OXFORD-760可用于测量铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
OXFORD-760台式测厚仪铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精'确性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
MMiniTest 720/730/740涂层测厚仪优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精'确
-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精'确度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
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