武汉测厚仪、涂层测厚仪、智博通科技(多图)
OXFORD-760台式测厚仪
OXFORD-760可用于测量铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
OXFORD-760台式测厚仪铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
湿膜厚度量规
湿膜厚度量规 Ref.1115
这些简单而廉价的量规可用于测量平坦表面上的漆膜、搪瓷、粘结剂或其它涂层的厚度。
这些量规的材质是不锈钢板，出品时包装在一个信用卡大小的夹子内。量规的清洗很容易，使用没有危害性的溶剂清洗即可。
每套有三个量规。
测量范围 刻度
1 、 5-120 微米 5 微米
2 、 25-600 微米 25 微米
3 、 50-1200 微米 50 微米
符合标准： ASTM D4414 ， BS 3900:C5 ， ISO 2808
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
武汉智博通科技有限公司
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