涂层测厚仪

引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了，这里我们在简单介绍一下引起测量误差较大的原因主要有：基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等，新来的朋友可以参考仪器的文章熟悉一下我们就不一一做介绍了。

超声波测厚仪（精密型）

产品概述：

超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精'确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作精'确测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。本仪器显示分辨率为0.01，可测量比TT100更为精密的工件。

功能特点：

1、高分辨率：测量100mm以下工件时显示分辨率为：0.01mm；

2、自动校对零点：可对系统误差进行修正；

3、耦合提示、低电压提示、

4、关机方式：自动关机（无操作三分钟后）；

5、声速调节：可利用已知厚度试块测量声速；

6、数据存储：可以存储10个厚度值和5个声速值；

高精密超声波测厚仪CL5  

CL5适用于各种工业，尤其在汽车和航空工业中作为质量控制和生产测量的工具。它可用于钢卷等新型材料厚度的抽样检查。可通过中期或终厚度测量对加工操作进行监控，还可用于精密测量塑料元件的厚度。CL5同使用范围广泛的接触探头和延迟线探头兼容，当使用延迟线探头对超薄元件进行测量时，其延迟自动测量模式从第'一个反射回波和多重回波测量之间进行切换。

美国GE/德国Krautkramer公司CL5高精度测厚仪体积小巧，功能丰富

CL 5精密测厚仪具有功能全面、使用简便、体积小巧和结构牢固的优点。位于显示屏正下方的3个软键启动所显示菜单上的各种功能。利用四个方向键可以简单而高效地切换菜单和浏览文本输入画面。图形显示为用户提供了6种不同的操作模式。用户可以在常规、'小值扫描、'大值扫描、差值/减薄率、厚度+A扫描(选件)或声速测试(选件)中进行选择。CL 5采用可编程数据记录器，可以方便在电脑上设置数据文件。SD卡存储系统将所有数据记录和设置信息存储在可拆卸SD存储卡上。将测厚仪直接插入电脑后，文件的格式允许进行拖放操作。其它数据，比如数码照片，也可以存储在同一张SD卡上。

这一体积小巧、功能多样的仪器还具有以下这些优点：

- 高测量性能提供具有高度稳定性和可重复性的厚度值

- 六种测量和显示模式：常规、'小厚度捕获、'大厚度捕获、差值和减薄率、声速测试(要求配有CL 5V选项)和厚度+A扫描(要求配有实时A扫描选项)

- 所有型号都具有A扫描快照功能

- 空心/实心厚度值指示耦合或非耦合状态

- 可视LED报警提醒用户测量超出了用户可以选择的极限值。

- 用于特殊配置的客户参数设置以及快速仪器设置

- 灵活的电源系统，可通过标准AA电池或可充电电池组供电。

- 多语言用户界面

- 自动超声波调节性能(增益和闸门控制)

- 支持多种类的标准探头