SURTRONIC S116 粗糙度仪 英国泰勒 霍普森 便携式粗糙度仪

概述：Surtronic S100系列是耐用的便携式表面粗糙度测量仪，适用于车间、工业和检测间的应用。

泰勒.霍普森 Surtronic S100 系列有两种型号可供选择：S116粗糙度仪是标准产品；S128则能够提供提高测量范围和分析能力。

技术参数:

数据显示 ：

显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果

数据存储：

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘4G，多可存储39，000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

技术指标：

测量范围：200 um 100 um 10 um

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

校准：

自动软件校准   标准：ISO4287

四、测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287，ISO13565-1，ISO13565-2，ASME46.1，粗糙度仪， JIS0601， N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra， Rv， Rp， Rz， Rt， Rq， Rsk， Rmr， Rdq， Rpc，表面粗糙度比较样块， RSm， Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra， Rv， Rp， Rz， Rt， Rq， Rsk， Rdq， RSm， Rpm， Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra， Rv， Rp， Rz， Rt， Rq， Rsk， Rmr， Rdq， RSm， RzJIS， Rc， Rku， Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

粗糙度仪 leeb430/431

随着粗糙度仪的技术和功能不断加强和完善，以及深入的推广和应用，手持式粗糙度仪，越来越多的行业被发现会需求粗糙度的检测，除机械加工制造外，粗糙度仪销售，电力、通讯、电子、，如交换机上联轴器、集成电路半导体等生产加工过程中也需粗糙度的评定，甚至人们生活中使用的文具、餐具、人的牙齿表面都要用到表面粗糙度的检验。

粗糙度仪 leeb451/452

主要特点：

1、高精度电感传感器

2、段码液晶显示器，具有背光功能

3、人机对话，界面直观、操作极其简单

4、内置锂离子充电电池及控制电路，容量高、无记忆效应，充电时 间短，连续工作时间长，大于20小时

6、机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便快捷

7、带有测值存储及存储数据查询功能