EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪MiniTest 720/730/740涂层测厚仪

-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精准性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

MMiniTest 720/730/740涂层测厚仪优点一览：

-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精准

-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）

-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误

-温度补偿功能避免温度变化引起的错误

-生产过程中50点校准使仪器获得高精准度的特征曲线

-大存储量，能存储10或100组多达100，高精度测厚仪，000个读数

-读数和统计值能单独调出

-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转

-菜单指引操作，测厚仪，25种语言可选

-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC

-可下载更新软件

高精度涂层测厚仪

功能特点：

● 全中文菜单界面操作，简单方便；  

● 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和

 硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基

 体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。

● 可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)

● 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

● 具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)；

● 设有五个统计量：平均值（MEAN）、测试次数（NO．）、

 标准偏差（S．DEV）；

●多种校准方式：可采用一试片校准和两试片校准方法对仪器进行校准，并可用五试片校准对仪器的系统误差进行修正；

● 具有存储功能：可存储4类工件，每类工件26组，每组15个测量值，共1560个测量值；

● 具有删除功能：对测量中出现的单个数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；

● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；

● 具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据进行进一步处理；

● 操作过程有蜂鸣声提示；

● 有高亮LED背光显示，方便在光线灰暗环境使用。

测量原理

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性涂盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电涂盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

a)  

磁性法(F型测头)

      当测头与涂盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，涂层测厚仪，由于非磁性涂盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。

b)  

涡流法(N型测头)

利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与涂盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。

MC-2010A型涂（镀）层测厚仪

MC-2010A型涂层测厚仪工作原理：MC-2010A型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，磁性覆层测厚仪，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。

产品性能

MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数

1、测量范围：0~1200um

2、测量误差：<3%±1um

4、显示方式： 4位液晶数字显示

5、主要功能：

  (1).测量：内置探头全量程测厚

  (2).统计：设有三个统计量：平均值

  (3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准

  (4).电量：具有欠压显示功能

  (5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示

  (6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式

6、电源：  两节1.5v电池

8、外形尺寸：115mm*45mm*25mm

10、使用环境温度：　0℃~+40℃  相对湿度：不大于90%

13、曲率半径： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠电压指示：   右上角显示＂＂

*临界厚度值：工件铁基厚度大于1mm时，其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。