智博通科技有限公司(图)-落地式火花直读光谱仪-光谱仪
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X射线荧光光谱仪 X-Strata 920
根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。
德国斯派克台式紧凑型直读光谱仪SPECTROCHECK高质量 光谱分析仪
SPECTROCHECK以崭新专利光学技术实现突破。光学系统结合了多检测器多色仪和波长选定映像反馈技术（SWIFT）。光学室隔离恒温，确保稳定运行。内部流动冲洗技术保证紫外光通光率。
这样的设计方案可以实现全部应用相关光谱范围高精度性能。SPECTROCHECK优化铸造金属元素选择设计方案。因此可以减少光谱干扰，光谱仪，使得分析谱线从大量干扰谱线中“脱颖而出”。
全新的软件界面展示了清晰，友好的显示风格。基于按钮的，无菜单的日常操作界面，光谱仪操作方法，使得SPECTROCHECK简单易用。
而且，独特的插件式模块设计使得用户可以根据需要定制功能。用户可以根据样品类别选择所需的插件模块，也可以在屏幕添加新增插件。用户很容易掌握操作要领。
全新的，简单透彻的软件风格，直读光谱仪，用户不需长时间操作培训即可使用。用户可以快速上手，直观操作。
德国斯派克落地式火花直读光谱分析仪SPECTROLAB M12
建立光学系统技术新标准
2007年SPECTROLAB创造了先锋技术“混合动力”PMT/CCD双检测器光学系统，为高l端直读光谱仪光学技术树立了新的里程碑。自从斯派克公司从未间断提升两种技术至新的境界。
两种创造性的光学系统技术
无论第三代“混合动力”双检测器光学系统还是全CCD光学系统都创造性地为金属工业提供了杰出的光学分析性能。双检测器光学系统无懈可击地满足了个性化科研实验室对灵活性，稳定性和高精度的严格要求。使其尤其适于检测新材料，光电直读光谱仪，痕量分析，夹杂物，高纯金属以及贵金属。全CCD光学系统兼具惊人的重要性，稳定性和快速分析。便捷的ICAL智能标准化大大缩短仪器校正时间。这些性能恰恰是炉前过程控制或进出厂原材料质量检验需要的。不仅于此，SPECTROLAB专利的测定球墨铸铁中的碳元素含量技术逐步取代了红外碳硫分析仪。美国专利证书编号：8，976，350，B2
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